ET9000系列电输运性质测试系统是集霍尔效应、磁阻、 I-V特性等测试于一体全自动化测试系统。 系统的电测量采用了美国Keithley的仪表、磁场测量与控制采用美国Lake Shore的精密高斯计， 配备灵巧的测量样品杆， 配有全自动化的测试软件， 能快速方便地为您的实验提供可靠的数据。系统还有多种低温选件， 是您研究样品电输运性质的有力武器。
可测试材料
半导体材料：Si, Ge, GaAs, GaN, AlGaAs, CdTe, HgCdTe等
铁氧体材料：
低阻抗材料：金属、透明氧化物、弱磁性半导体材料、TMR材料等
基本功能
在不同温度和不同磁场下的进行霍尔效应、磁阻、I-V特性的测试。可测量如下参数：
霍尔效应：方块电阻、电阻率、霍尔系数、导电类型、霍尔迁移率、载流子浓度
磁 阻：方块电阻、电阻率
I-V 特性：I-V特性曲线、R-B曲线、R-T曲线。
主要特点
Ø 插卡式样品安装，可以在其它地方预装样品，方便、快捷， 提高仪器使用效率
Ø 一次可以同时进行两个样品的测试
Ø 样品杆取出/放进方便， 快速方便更换样品卡
Ø 温度和磁场任意设置， 满足不同的研究需要
Ø 电阻测量宽（1mΩ~ 20MΩ）， 测量准确（不确定度为1%）
Ø 测试和计算过程完全计算机控制， 省时、省力
Ø 实时显示测量结果和测量曲线， 便于对测试情况进行监控
Ø 磁场闭环控制， 稳定性高
Ø 闭循环低温选件， 方便且运行费用低